המערכת הקומפקטית ביותר מבית NSI יכולה להיות מותקנת בגרסה שולחנית או בגרסת מעמד ריצפתי. טווח הסריקה הנדיב המאפשר בדיקת חלקים בגודל של 12 ס"מ מעמיד את המערכת כבחירה מושלמת למחקר מעבדות, שיקוף חלקי אלקטרוניקה קטנים ויישומי פיתוח.

המערכת בעלת המימדים הנוחים ביותר מסוגה בשוק מאפשרת הזנת חלקים המתואמים לרוחב גישה של 91 ס"מ.  ה X25 מושלמת לשיקוף חלקים קטנים עד בינוניים ולאפליקציות בהן נדרשת רזולוציה סאב-מיקרונית.

אחת המערכות הפופולאריות ביותר לשימושי אלקטרוניקה, תעופה וציוד רפואי. ה X50 מסוגלת לשקף אובייקטים בגודל מקסימלי של 30 ס"מ בחדר, מעבדה או כחלק מפס הייצור.

המערכת הורסטילית ביותר מבית NSI, מציעה משטח סריקה גדול, ארגונומיה מצוינת לטעינת אובייקטים גדולי מימדים  לצד יכולת רגישות גבוהה ביותר לסריקת אובייקטים זעירים. 

מערכת השיקוף הגדולה ביותר של NSI. תנועת ציר X אופקי בלתי תלויה של השפופרת והדטקטור מאפשרת יכולות בדיקה לחלקים מאורכים. המערכת מיועדת לבדיקת חלקים מרוכבים, יציקות, צנרת ,ריתוכים ועוד.